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ict测试装备的光学检测与老化测试

时间:2021-12-29| 作者:admin

ict测试装备自动光学检测 (AOI)


ict测试装备AOI运用单个 2D 相机或两个 3D 相机拍摄 PCB 的照片。然后,程序会将电路板的照片与详尽的原理图阻止相比。若是保存与原理图在一定水平上不匹配的电路板,则该电路板会被标记以供手艺职员检查。


ict测试装备AOI 可用于及早发明问题以确保尽快关闭消耗。可是,它不会为电路板供电,并且可能无法 100% 掩饰一切部件类型。


切勿仅依赖自动光学检测。AOI 应与其他测试疏散运用。我们喜欢的一些组合是:

AOI 和飞针

AOI 和在线测试 (ICT)

AOI 和功用测试

4. ict测试装备老化测试


望文生义,ict测试装备老化测试是对 PCB 的一种更强烈的测试。它旨在检测早期误差并树立负载才华。由于其强度,老化测试可能会破损被测部件。


ict测试装备老化测试经由您的电子装备推进电力,通常是在其[敏感词]指定容量。电源经由电路板一连运转 48 至 168 小时。若是董事会失败,则称为婴儿殒命率。关于军事或医疗应用,婴儿殒命率高的电路板显然不是理想的。


ict测试装备老化测试并不适用于每个项目,但在某些中央它很有意义。它能够在产品抵达客户之前阻止为难或危害的产品宣布。


请记着,ict测试装备老化测试会缩短产品的运用寿命,特殊是当测试使您的电路板接受比额定值更大的压力时。若是发明的缺陷很少或没有发明,则能够在较短的时间内降低测试限制,以避免 PCB 接受过大的压力。

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